導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗箱故障的原因

發(fā)布日期：2022-09-22 瀏覽量：841

　　復(fù)合鹽霧試驗箱的試驗是對比性試驗，試驗結(jié)果不能預(yù)測在此環(huán)境條件下使用的同種金屬材料耐腐蝕性的長期結(jié)果。但此方法仍然可提供暴露于與試驗條件相類似的鹽污染環(huán)境下材料的相關(guān)性能方面的有價值信息。本設(shè)備試驗與傳統(tǒng)加速腐蝕試驗，如中性鹽霧試驗（NSS)、乙酸鹽霧試驗(AASS)、銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS)相比，其優(yōu)點在于它能更好地再現(xiàn)發(fā)生在戶外鹽污染環(huán)境下的腐蝕。

　　復(fù)合鹽霧試驗箱的加速腐蝕試驗適用于：金屬及其合金、金屬覆蓋層（陽極性的和陰極性的）、轉(zhuǎn)化覆蓋層、陽極氧化覆蓋層、金屬材料上的有機覆蓋層等。

　　減少復(fù)合鹽霧試驗箱的故障就要了解這些故障產(chǎn)產(chǎn)生原因；很多電子元件隨著工作時限延長可能發(fā)生退化性的失效，而鹽霧試驗箱的元件退化性失效所包括的范圍較廣，主要有如下幾個特征：某些參數(shù)隨著工作時間的延長或工作環(huán)境的變動，其參數(shù)發(fā)生漂移，造成時而工作正常，時而工作不正常的情況。產(chǎn)生這些故障的原因主要為：

　　1、由于負荷超過其內(nèi)部承受能力和使用保養(yǎng)不當(dāng)而產(chǎn)生的結(jié)果。

　　2、電子元件失效普遍的是存在品質(zhì)與技術(shù)缺陷。

　　3、環(huán)境因素作用，包括溫度、濕度、電壓及光照等。

　　以上三種情況是導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗箱產(chǎn)生故障的主要原因，可以說電子元件的好壞直接關(guān)系到儀器設(shè)備的質(zhì)量優(yōu)劣。

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